光子計數x射線探測器XC-TDI
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工業行業快速雙能光子計數探測器

TDI系列探測器特別適合需要高速、有時需要雙能功能的線掃應用。高速掃描狀態下,該技術保證了高分辨率、具備區分被測樣品中不同物質的能力。

靈敏度高、實現高速線掃。探測器充分利用采集到線管功率要求??煽康捻诨k(CdTe) 耐輻射能力的X射線,可生成高質量的圖像。同時降低了對X射延長了探測器使用壽命。


產品特點

  • 雙能成像實現物質區分

  • 能量選擇范圍大

  • 檢測速度高

  • X射線源功率要求低

  • 圖像分辨率高

  • 零噪聲讀取

  • 低劑量

  • 探測器使用壽命長


產品參數

傳感器

技術                            雙能光子計數

模式                            TDI雙能高速

                                   TDI單能高速

                                   TDI能譜

轉換介質                      碲化鎘 (CdTe)

像素                             100 μm

像素填充                      100%

像素間隙                      100 μm


計數率

高速模式                       200 Mcnts / s / mm2

能譜模式                       20 Mcnts / s / mm2

AD位數最高                  18比特/幀

有效面積                        見產品范圍

成像速度                        見產品范圍

溫度控制                        PWM效熱電控制風扇

成像質量                         高速     能譜

MTF@1.0lp/mm             95%     90%

MTF@2.5lp/mm             70%     70%

MTF@4.0lp/mm             50%     60%

DQE@1.0lp/mm             70%     75%

DQE@2.5lp/mm             55%     55%

DQE@4.0l /mm              40%     35%

滯后                        0 %(X射線累計 6 μGy)

偽影                        < 0.1 %(射線開啟1分鐘 累計6 μGy后)


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